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相控陣雙全法改善缺陷表征
李衍 無錫市承壓設備學會NDT專委會; 江蘇無錫214026
關鍵詞：缺陷表征 成像質量改善
摘要：與常規技術相比,相控陣超聲檢測(PAUT)優勢凸現:速度快,可靠性好,靈敏度高,分辨力優。應對復雜檢測,PAUT總是首選技術。隨著計算功效強化,新一代超聲設備管控大數據能力優化,"雙全"法-全矩陣捕獲(FMC)和全聚焦法(TFM)等先進成像技術,應運而生。結合標準許可的方法使用,這些技術可使缺陷表征大為改善。本文即論證相控陣檢測與先進成像法相結合,如何為UT日常應用,強化缺陷表征過程。
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