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可用于單幅閉合干涉圖相位恢復的正則化相位跟隨技術
王賢敏; 劉東; 臧仲明; 吳蘭; 嚴天亮; 周宇豪; 張與鵬 浙江大學光電科學與工程學院現代光學儀器國家重點實驗室; 浙江杭州310027
關鍵詞：干涉 相位恢復 單幅條紋 正則化
摘要：在利用干涉技術檢測溫度、壓力、形貌等物理量時,往往需要通過各種調制手段將這些物理量的信息加載到干涉條紋圖樣中,并通過對其進行分析而得到被測信息。當實驗條件不利于實驗者實施移相、加載波等調制手段時,探測器得到的往往是單幅閉合條紋,此時常用的移相解調技術和頻譜分析方法等不再適用。正則化相位跟隨(Regularized Phase Tracking,RPT)技術可以對單幅閉合條紋進行相位恢復,是目前針對單幅閉合條紋相位恢復最有效的方法。近年來研究者們從復雜干涉圖處理能力、算法穩定性、相位恢復精度等方面對RPT技術進行了改進和發展,使其逐漸走向實用化。本文介紹了RPT技術用于單幅干涉圖相位恢復的基本原理,總結了近年來RPT技術的相關改進與發展,例舉了采用RPT技術進行相位恢復的應用場合,并適當推測RPT技術的未來發展方向。
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